පැච් බල ප්‍රේරකය අසාර්ථක වීමට හේතු| සනීප වෙන්න

What are the reasons that affect the ප්‍රේරණය අද, මම ඔබේ යොමු කිරීම සඳහා අදාළ අන්තර්ගතයන් කිහිපයක් ඒකාබද්ධ කළෙමි.

ප්රේරක අසමත් වීමට හේතු

1. යන්ත්‍රෝපකරණ ක්‍රියාවලියේදී චුම්බක හරය මගින් නිපදවන යාන්ත්‍රික ආතතිය විශාල වන අතර එය මුදා හැර නොමැත.

2. චුම්බක හරයේ අපද්‍රව්‍ය තිබේ හෝ හිස් චුම්භක හර ද්‍රව්‍යය ඒකාකාරී නොවේ, එය චුම්බක හරයේ චුම්බක ක්ෂේත්‍ර තත්ත්වයට බලපාන අතර චුම්බක හරයේ පාරගම්යතාව අපගමනය කරයි.

3. සින්ටර් කිරීමෙන් පසු සින්ටර් කිරීම නිසා.

4. තඹ වයරය ගිල්වීමේ වෑල්ඩින් මගින් තඹ තීරුව සමඟ සම්බන්ධ කළ විට, දඟරය දියර ටින් වලින් ඉසිනු ලැබේ, එනැමල්ඩ් වයරයේ පරිවරණය උණු කිරීම සහ කෙටි පරිපථයක් ඇති කරයි.

5. තඹ වයරය සිහින් වන අතර, එය තඹ තීරුව සමඟ සම්බන්ධ වන විට ව්යාජ වෑල්ඩින් සහ විවෘත පරිපථය අසාර්ථක වේ.

වෙල්ඩින් මාදිලිය

අඩු සංඛ්‍යාත පැච් බල ප්‍රේරකයේ ප්‍රේරණය නැවත ප්‍රවාහ පෑස්සීමෙන් පසු 20% ට වඩා අඩු ප්‍රමාණයකින් වැඩිවේ.

අඩු සංඛ්‍යාත පැච් ප්‍රේරක ද්‍රව්‍යයේ කියුරි උෂ්ණත්වය ප්‍රතිප්‍රවාහ පෑස්සීමේ උෂ්ණත්වය ඉක්මවන බැවින් Demagnetization සිදුවේ. පැච් ප්‍රේරකයේ චුම්භකකරණයෙන් පසු, පැච් ප්‍රේරක ද්‍රව්‍යයේ පාරගම්යතාව උපරිමයට නැවත පැමිණෙන අතර ප්‍රේරණය වැඩි වේ. සාමාන්‍ය පාලන පරාසය වන්නේ පැච් ප්‍රේරකය වෙල්ඩින් තාපයට ප්‍රතිරෝධී වීමෙන් පසු ප්‍රේරණය 20% ට වඩා අඩු ප්‍රමාණයකින් වැඩි වීමයි.

පෑස්සුම් ප්‍රතිරෝධය ඇති කළ හැකි ගැටළුව නම්, සමහර විට පරිපථ ක්‍රියාකාරිත්වය කුඩා කාණ්ඩ අතින් වෙල්ඩින් කිරීමේදී සුදුසුකම් ලබා තිබීමයි (පැච් ප්‍රේරකය සමස්තයක් ලෙස රත් නොකළ විට, ප්‍රේරණය තරමක් වැඩි වේ). කෙසේ වෙතත්, චිප්ස් විශාල සංඛ්යාවක් ඇති විට, සමහර පරිපථවල ක්රියාකාරිත්වය පිරිහී ඇති බව සොයා ගනී. මෙය පරිපථයේ ක්‍රියාකාරීත්වයට බලපාන රිෆ්ලෝ පෑස්සීමෙන් පසු පැච් එකේ ප්‍රේරණය වැඩි වීම නිසා විය හැක. චිප් ප්‍රේරණයේ නිරවද්‍යතාවය දැඩි ලෙස අවශ්‍ය වන ස්ථානවල (සංඥා ලබා ගැනීම සහ සම්ප්‍රේෂණ පරිපථය වැනි), චිප් ප්‍රේරකයේ වෙල්ඩින් ප්‍රතිරෝධය කෙරෙහි වැඩි අවධානයක් යොමු කළ යුතුය.

ප්‍රත්‍යාවර්ත පෑස්සීමේ උෂ්ණත්වයට ළඟා වූ විට, ලෝහ රිදී ලෝහ ටින් සමඟ ප්‍රතික්‍රියා කර යුටෙක්ටික් සාදයි, එබැවින් පැච් ප්‍රේරකයේ රිදී කෙළවරේ ටින් කෙළින්ම ආලේප කළ නොහැක. ඒ වෙනුවට, රිදී කෙළවර මුලින්ම පරිවාරක තට්ටුවක් සෑදීමට නිකල් සමඟ ආලේප කර පසුව ටින් කර ඇත.

1. අවසන් ඔක්සිකරණය:

ඉහළ උෂ්ණත්වය, ආර්ද්‍රතාවය, රසායනික ද්‍රව්‍ය, ඔක්සිකාරක වායූන් හෝ වැඩි කාලයක් ගබඩා කර තැබීමෙන් පැච් එක විද්‍යුත් බලපෑමට ලක් වූ විට, පැච් එකේ ප්‍රේරක කෙළවරේ ඇති ලෝහ Sn SnO2 වෙත ඔක්සිකරණය වන අතර පැච් එකේ ප්‍රේරක කෙළවර අඳුරු වේ. SnO2 Sn, Ag, Cu යනාදිය සමඟ eutectic සෑදෙන්නේ නැති නිසා, patch inductance හි පෑස්සුම් හැකියාව අඩු වේ. පැච් ප්‍රේරක නිෂ්පාදනවල ආයු කාලය: වසර භාගයක්. තෙල් සහිත ද්‍රව්‍ය, ද්‍රාවක වැනි පැච් එකේ ප්‍රේරක අන්තය දූෂිත වී ඇත්නම්, එය පෑස්සීමේ හැකියාව අඩුවීමට ද හේතු වේ.

2. නිකල් ආලේපනය ඉතා තුනී ය:

නිකල් ආලේපනය නම්, නිකල් ස්ථරය හුදකලා භූමිකාව ඉටු කිරීමට ඉතා තුනී වේ. ප්‍රතිප්‍රවාහ පෑස්සීමේදී, පැච් එකේ ප්‍රේරක කෙළවරේ ඇති Sn මුලින්ම එහිම Ag සමඟ ප්‍රතික්‍රියා කරයි, එය පැච් එකේ ප්‍රේරක කෙළවරේ Sn සහ පෑඩ් මත ඇති පෑස්සුම් පේස්ට් සම-දියවීම කෙරෙහි බලපාන අතර එමඟින් ආහාර ගැනීමේ සංසිද්ධිය ඇතිවේ. රිදී සහ පැච් ප්‍රේරකයේ පෑස්සුම් හැකියාව අඩු වීම.

විනිශ්චය ක්‍රමය: පැච් ප්‍රේරකය උණු කළ පෑස්සුම් කෑන් තුළට තත්පර කිහිපයක් ගිල්වා පිටතට ගන්න. අවසානයේ දී වළවල් හමු වුවහොත්, හෝ පෝසිලේන් සිරුර පවා නිරාවරණය වී ඇත්නම්, එය රිදී අනුභව කිරීමේ ප්රපංචයක් ඇති බව විනිශ්චය කළ හැකිය.

3. දුර්වල වෙල්ඩින්:

පැච් ප්‍රේරක නිෂ්පාදනයට නැමීමේ විරූපණයක් තිබේ නම්, වෑල්ඩින් කිරීමේදී විශාලන බලපෑමක් ඇති වේ. දුර්වල වෙල්ඩින්, ව්යාජ වෑල්ඩින්, නුසුදුසු පෑඩ් නිර්මාණය.

ඒ. පෑඩයේ කෙළවර දෙකම විවිධ ප්‍රමාණවලින් වැළකීම සඳහා සැලසුම් කළ යුතුය, එසේ නොමැතිනම් කෙළවර දෙකේ දියවන කාලය සහ තෙත් කිරීමේ බලය වෙනස් වේ.

බී. වෙල්ඩින් දිග 0.3mm ට වඩා වැඩිය (එනම්, පැච් ප්‍රේරකයේ සහ පෑඩයේ ලෝහ කෙළවරේ අහඹු දිග).

c. පෑඩයේ දිග හැකි තරම් කුඩා වේ, සාමාන්යයෙන් 0.5mm ට වඩා වැඩි නොවේ.

ඈ පෑඩයේ පළල ඉතා පුළුල් නොවිය යුතු අතර, MLCI පළල හා සසඳන විට එහි සාධාරණ පළල 0.25mm නොඉක්මවිය යුතුය.

අසමාන පෑස්සුම් පෑඩය හෝ පෑස්සුම් පේස්ට් ස්ලිප් නිසා පැච් ප්‍රේරණය θ කෝණය මාරු කරන විට. වෙල්ඩින් පෑඩ් දියවීමේදී නිපදවන තෙත් කිරීමේ බලය හේතුවෙන්, ඉහත අවස්ථා තුන සෑදිය හැකි අතර, ඒවායින් ස්වයං-නිවැරදි කිරීම ප්‍රමුඛ වේ, නමුත් සමහර විට ඇදීම වඩාත් ආනත වේ, නැතහොත් තනි ලක්ෂ්‍යයක් ඇදගෙන යයි, සහ පැච් ප්‍රේරකය පෑඩයක් මතට ඇදගෙන හෝ ඉහළට ඇද දැමුවා. ආනත හෝ සෘජු (ස්මාරක සංසිද්ධිය). වර්තමානයේ, θ කෝණ ඕෆ්සෙට් දෘෂ්‍ය පරීක්ෂාව සහිත ස්ථානගත කිරීමේ යන්ත්‍රය මගින් මෙවැනි අසාර්ථක වීම් අවම කර ගත හැක.

තෝරාගත් චිප් ප්‍රේරක පබළු වල ශ්‍රේණිගත ධාරාව කුඩා නම් හෝ පරිපථයේ විශාල ආවේග ධාරාවක් තිබේ නම්, ධාරාව දැවී ගොස් චිප් ප්‍රේරකය හෝ චුම්බක පබළු අසමත් වන අතර එමඟින් විවෘත පරිපථයක් ඇති වේ. පරීක්ෂා කිරීම සඳහා පරිපථ පුවරුවේ සිට පැච් ප්රේරකය ඉවත් කරන්න, පැච් ප්රේරකය අසමත් වන අතර, සමහර විට දැවී යාමේ සලකුනු දක්නට ලැබේ. වත්මන් පිළිස්සීම සිදු වුවහොත්, අසාර්ථක නිෂ්පාදන සංඛ්යාව වැඩි වනු ඇති අතර, එම කාණ්ඩයේම අසාර්ථක නිෂ්පාදන සාමාන්යයෙන් 100% කට වඩා වැඩි වනු ඇත.

ප්‍රතිප්‍රවාහ පෑස්සීමේදී වේගවත් සිසිලනය සහ උනුසුම පැච් ප්‍රේරකයේ අභ්‍යන්තර ආතතියට හේතු වන අතර එමඟින් විවෘත පරිපථයේ සැඟවුණු අනතුරක් ඇති පැච් ප්‍රේරකයේ ඉතා කුඩා කොටසක දෝෂ විශාල වීමට හේතු වන අතර එමඟින් විවෘත පරිපථය විවෘත වේ. පැච් ප්රේරකය. පරීක්ෂා කිරීම සඳහා පරිපථ පුවරුවෙන් පැච් ප්‍රේරකය ඉවත් කරන්න, පැච් ප්‍රේරකය වලංගු නොවේ. වෙල්ඩින් විවෘත පරිපථයක් තිබේ නම්, අසාර්ථක නිෂ්පාදන සංඛ්යාව සාමාන්යයෙන් කුඩා වන අතර, එම කාණ්ඩයේම අසාර්ථක නිෂ්පාදන සාමාන්යයෙන් ශ්රේණි 1000 ට වඩා අඩුය.

චුම්බක ශක්තිය

පැච් ප්‍රේරකයේ දුර්වල සින්ටර් කිරීම හෝ වෙනත් හේතූන් නිසා සෙරමික් ශරීරය ප්‍රමාණවත් තරම් ශක්තිමත් සහ බිඳෙනසුලු නොවේ, නැතහොත් නිෂ්පාදනය බාහිර බලයෙන් බලපෑමට ලක් වූ විට පෝසිලේන් ශරීරයට හානි වේ.

ඇලවුම් බලය

පැච් එකේ ප්‍රේරක කෙළවරේ රිදී තට්ටුවේ ඇලවීම දුර්වල නම්, ප්‍රතිප්‍රවාහ පෑස්සීමේදී, පැච් ප්‍රේරකය සීතල හා උණුසුම් වේ, තාප ප්‍රසාරණය සහ සීතල හැකිලීම නිසා ඇතිවන ආතතිය සහ පෝසිලේන් ශරීරය බාහිර බලවේග මගින් බලපායි. , එය ප්රේරක අවසානය සහ පෝසිලේන් සිරුරේ වෙන්වීම හා වැගිරීමට හේතු විය හැක; හෝ පෑඩය ඉතා විශාල වන අතර, ප්‍රතිප්‍රවාහ පෑස්සීමේදී, පේස්ට් දියවීම සහ අවසාන ප්‍රතික්‍රියාව නිසා ඇතිවන තෙත් කිරීමේ බලය අවසාන ඇලීමට වඩා වැඩි වන අතර, එහි ප්‍රතිඵලයක් ලෙස අවසාන හානි සිදුවේ.

පැච් ප්‍රේරකය අධික ලෙස පිළිස්සීම හෝ අමු ලෙස පිළිස්සීම හෝ නිෂ්පාදන ක්‍රියාවලියේදී ක්ෂුද්‍ර ඉරිතැලීම් ඇත. ප්‍රත්‍යාවර්ත පෑස්සුම් කිරීමේදී වේගවත් සිසිලනය සහ උනුසුම් වීම පැච් ප්‍රේරකය තුළ ආතතිය, ස්ඵටික ඉරිතැලීම හෝ ක්ෂුද්‍ර ඉරිතැලීම් ප්‍රසාරණය ඇති කරයි, එහි ප්‍රතිඵලයක් ලෙස චුම්බක හානි සහ යනාදිය.